11. April 2013
Fraunhofer IISB, Erlangen
Fraunhofer IISB, Erlangen
Begrüßung
Heiner Ryssel, Fraunhofer-Institut für Integrierte Systeme und Bauelementetechnologie (IISB), Erlangen
Discussion Regarding Implanter Monitoring
Dietmar Henke, Globalfoundries, Dresden
Implant Tool Matching - Some Remarks
Dieter Fuchs & Christian Krüger & Werner Schustereder, Infineon Technologies, Regensburg, Dresden & Villach/Österreich
Energieeffizienz in der Halbleiterfertigung – Geräte- und Fabrikaspekte
Markus Pfeffer, Fraunhofer IISB, Erlangen
Purion M – Leading Productivity
Olivia Keller & Serafino Vulcano, Axcelis Technologies, Beverly/USA & Agrate Brianza/Italy
Ionenimplantation für die Solarindustrie
Claus Schöllhorn, Bosch Solar Energy, Arnstadt
Impact of Temperature Variations and Time on Dose Measurements with TWIN
Kristian Schulz, JenaWave, Jena
Eine robuste Lösung für das Reinigen von Prozesskammern (Ion Implant, Dry Etch, CVD, PVD, ALD) mit neuer Generation von DSP (Diamond Scrub Pads)
Alexandre Paradis, Euris, München
Neue Implantationsanlage Optima MDx am IISB
Volker Häublein, Fraunhofer IISB, Erlangen
Diskussion mit anschließender Reinraum-/Laborführung