7. Mai 2009
am Fraunhofer IISB in Erlangen, zusammen mit der Nutzergruppe Ionenimplantation
am Fraunhofer IISB in Erlangen, zusammen mit der Nutzergruppe Ionenimplantation
Begrüßung
Anton Bauer, Heiner Ryssel, Fraunhofer IISB, Erlangen
Kontakt-Silizide für aktuellste und künftige Technologie-Knoten
Jürgen Nieß, Mattson, Dornstadt
Temperaturmessung in RTP
Denise Reichel, Forschungszentrum Dresden-Rossendorf
Anodische Phosphor-Silicatabscheidung auf Solarzellenwafer: die billigste Art zu dotieren
Friedrich Kröner, Infineon, Österreich
SIMS Applications in Photovoltaics
Hans-Ulrich Ehrke, CAMECA, Unterschleißheim
Photoelastische Scherspannungsmessungen am Kontaktloch in PV-Solarzellen
Hans Geiler, JenaWave, Jena
Plasma Implantation and Laser Annealing
Yannick Cizeron, Ion Beam Services, Jena
Excimer Lasers for Annealing
Ralph Delmdahl, Coherent, Göttingen
Derzeitige Aktivitäten der X-FAB Erfurt im Bereich Implantation
Lutz Ende, X-FAB, Erfurt
Advances in Solar PV Thin Film Technology
Karl-Heinz Stegemann, VP Technology, Dresden
Diskussion zur zukünftigen Ausrichtung der Nutzergruppen Heißprozesse und Ionenimplantation