Christian Kranert, Gruppenleiter Anlagen- und Defektsimulation in der Abteilung Materialien am Fraunhofer IISB, entwickelte eine neue Software zur schnellen, vollflächigen und automatisierten Detektion und Charakterisierung von Kristalldefekten in Siliziumkarbid (SiC)-Substraten. Außerdem forcierte er die Lizenzierung seiner neuen, sogenannten XRT-Toolbox an die Nutzer des Röntgentopographie-Messgerätes XRTmicron von Rigaku. Ein weiteres Highlight ist die Etablierung von zwei neuen SEMI-Standards für die Quantifizierung von 4H-SiC-Defekten mittels Röntgentopographie.

Diese tollen Ergebnisse bestätigen auch den Erfolg des Joint-Lab- Modells am Fraunhofer IISB. Joint Labs sind eine exklusive Möglichkeit, mit dem Fraunhofer IISB in einer industriekompatiblen Laborumgebung zusammenzuarbeiten.

Rigaku Europe SE und das Fraunhofer IISB betreiben das Center of Expertise for X-ray Topography, ein gemeinsames Joint Lab am Hauptsitz des IISB in Erlangen. Ein anschauliches Beispiel für die Effektivität der Zusammenarbeit ist das neue Geschäftsfeld im Bereich des SiC-Wafer-Mappings, das Rigaku in weniger als zwei Jahren rund um seine XRTmicron-Produktlinie aufgebaut hat.

Mit dem neuen LZE-Preis werden Mitarbeitende des Fraunhofer IISB für außergewöhnliche Leistungen geehrt. Der LZE-Preis wird für herausragende Akquisitionen oder besonders erfolgreiche Kooperationen, neue Netzwerke mit in- und ausländischen Partnern oder überdurchschnittliche Leistungen beim Know-how-Transfer aus der Forschung in die Industrie verliehen. Das Leistungszentrum Elektroniksysteme (LZE) ist eine gemeinsame Initiative der Fraunhofer-Gesellschaft, des Fraunhofer IIS, des Fraunhofer IISB und der FAU Erlangen-Nürnberg (FAU), zusammen mit Industriepartnern und weiteren Forschungseinrichtungen.